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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) / JSM 5400.


Anho de Adquisição:  1993
Técnica:  Microscopía electrónica
Unidade:  Laboratorio Análisis Instrumental
Responsável
  •  Manuel A. Martínez Cañas
  •  0034 924 003 100
  •  manuel.martinez@gobex.es
Especificações

- Resolución 4,0 nm ( a 30 kV y WD 8mm).

-Voltaje de aceleración de 0,5 kV a 30 kV

-Amplificación X15 a 2000000X.

-Distancia de trabajo (WD). 8 a 48 mm

-Imagen por electrones secundarios (SEI) y retrodispersados (BEI)

Âmbito

Observación de superficie de muestras de hasta 125 mm de diámetro, rotándolas.

Outras infraestruturas


EQUIPOS DE MICROSCOPÍA
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Departamento:
Área: No especifica
Decanter / Pieralisis M1
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Departamento: Aceite
Área: Almazara Experimental
Conexión RCT, Fortigate-3810A y AppDirector
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Departamento:
Área: CÉNITS
-
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Departamento: Cultivos Extensivos
Área: Agricultura de Precisión
Fuente U8001A
CETIEX. Centro Tecnológico Industrial de Extremadura
Departamento: Energía
Área:
Quirófanos experimentales y equipamiento correspondiente
Centro de Cirugía de Mínima Invasión Jesús Usón (CCMIJU)
Departamento: Anestesiología
Área: Anestesiología