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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) / JSM 5400.

Año de Adquisición:  1993
Técnica:  Microscopía electrónica
Unidad:  Laboratorio Análisis Instrumental
Responsable
  •  Manuel A. Martínez Cañas
  •  0034 924 003 100
  •  manuel.martinez@gobex.es
Especificaciones

- Resolución 4,0 nm ( a 30 kV y WD 8mm).

-Voltaje de aceleración de 0,5 kV a 30 kV

-Amplificación X15 a 2000000X.

-Distancia de trabajo (WD). 8 a 48 mm

-Imagen por electrones secundarios (SEI) y retrodispersados (BEI)

Ámbito

Observación de superficie de muestras de hasta 125 mm de diámetro, rotándolas.

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