XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)

Propiedades de la fuente: Radiación Monocromática Kα del Al a 1486.68 eV con irradiación perpendicular a la muestras (90º)

Spot size: 30 a 400 μm en disposición elipsoidal.

Propiedades de la fuente de Depth Profile: Bombardeo con iones Ar+ (Energías 1, 2 o 3 KeV.), fuente situada con una inclinación de 30º respecto a la horizontal de la muestra.

Dispositivo de Compensación de Carga mediante Flood Gun.

Análisis Superficial de Sólidos de cualquier naturaleza, mediante detección de electrones extraídos de los átomos superficiales, al aplicar una fuente de rayos X.

Posibilidad de realizar perfiles de Profundidad mediante Sputtering con iones Ar+.

Permite Cuantificación superficial de los elementos presentes.